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自動化分類晶圓缺陷圖樣－支援向量機之應用 = Automatic Cla...

陳詣享

自動化分類晶圓缺陷圖樣－支援向量機之應用 = Automatic Classification of Defect Pattern on Wafer －An application of Support Vector Machine

紀錄類型:	書目-語言資料,印刷品 : 單行本
並列題名:	Automatic Classification of Defect Pattern on Wafer －An application of Support Vector Machine
作者:	陳詣享,
其他作者:	胡念祖,
出版地:	雲林縣
出版者:	國立虎尾科技大學;
出版年:	民100[2011]
版本:	初版
面頁冊數:	72面圖 : 30公分;
標題:	資料探勘
標題:	晶圓缺陷圖形
標題:	圖形分析
標題:	支援向量機
標題:	Data Mining
標題:	Wafer defect graph
標題:	Matlab
標題:	Support Vector Machine
標題:	SVM
電子資源:	http://cetd.lib.nfu.edu.tw/etdservice/view_metadata?etdun=U0028-2107201115465300

自動化分類晶圓缺陷圖樣－支援向量機之應用 = Automatic Classification of Defect Pattern on Wafer －An application of Support Vector Machine
陳, 詣享

自動化分類晶圓缺陷圖樣－支援向量機之應用 = Automatic Classification of Defect Pattern on Wafer －An application of Support Vector Machine / 陳詣享撰 - 初版. - 雲林縣 : 國立虎尾科技大學, 民100[2011]. - 72面 ; 圖 ; 30公分.
含參考書目.
資料探勘晶圓缺陷圖形圖形分析支援向量機Data MiningWafer defect graphMatlabSupport Vector MachineSVM

胡, 念祖

自動化分類晶圓缺陷圖樣－支援向量機之應用 = Automatic Classification of Defect Pattern on Wafer －An application of Support Vector Machine
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205 $a 初版
210 $a 雲林縣 $d 民100[2011] $c 國立虎尾科技大學
215 0 $a 72面 $c 圖 $d 30公分
314 $a 指導教授 : 胡念祖
320 $a 含參考書目
328 $a 碩士論文--國立虎尾科技大學資訊管理研究所在職專班
510 1 $a Automatic Classification of Defect Pattern on Wafer －An application of Support Vector Machine
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