纳米数字集成电路老化效应 : = 分析、预测及优化 /
韓銀和.

 

  • 纳米数字集成电路老化效应 : = 分析、预测及优化 /
  • Record Type: Language materials, printed : Monograph/item
    Title/Author: 纳米数字集成电路老化效应 :/ 靳松, 韩银和著.
    Reminder of title: 分析、预测及优化 /
    remainder title: 納米數字集成電路老化效應.
    Author: 靳松.
    other author: 韓銀和.
    Published: 北京市 :清華大學出版社, : 2012.,
    Description: [5], 108面 :圖, 表 ; : 23公分.;
    Notes: 簡體字版.
    Subject: 電子電路. -
    ISBN: 9787302285434 (平裝) :
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