語系:
繁體中文
English
說明(常見問題)
登入
回首頁
切換:
標籤
|
MARC模式
|
ISBD
纳米数字集成电路老化效应 : = 分析、预测及优化 /
~
韓銀和.
纳米数字集成电路老化效应 : = 分析、预测及优化 /
紀錄類型:
書目-語言資料,印刷品 : Monograph/item
正題名/作者:
纳米数字集成电路老化效应 :/ 靳松, 韩银和著.
其他題名:
分析、预测及优化 /
其他題名:
納米數字集成電路老化效應.
作者:
靳松.
其他作者:
韓銀和.
出版者:
北京市 :清華大學出版社, : 2012.,
面頁冊數:
[5], 108面 :圖, 表 ; : 23公分.;
附註:
簡體字版.
標題:
電子電路. -
ISBN:
9787302285434 (平裝) :
纳米数字集成电路老化效应 : = 分析、预测及优化 /
靳松.
纳米数字集成电路老化效应 :
分析、预测及优化 /納米數字集成電路老化效應.靳松, 韩银和著. - 第1版. - 北京市 :清華大學出版社,2012. - [5], 108面 :圖, 表 ;23公分.
簡體字版.
參考書目 : 面[100]-108.
ISBN: 9787302285434 (平裝) :人民幣21元Subjects--Topical Terms:
847457
電子電路.
纳米数字集成电路老化效应 : = 分析、预测及优化 /
LDR
:00663cam a2200193 i 4500
001
713926
008
121112s2012 cc ad grb 000 0 chi d
020
$a
9787302285434 (平裝) :
$c
人民幣21元
040
$a
MUQ
$b
chi
$c
MUQ
$d
NFU
$e
ccr
041
0 #
$a
chi
084
$a
448.62
$b
4248 101
$2
ncsclt
100
1
$a
靳松.
$3
847504
245
1 0
$a
纳米数字集成电路老化效应 :
$b
分析、预测及优化 /
$c
靳松, 韩银和著.
246
1 #
$a
納米數字集成電路老化效應.
246
1 #
$a
分析预测及优化.
246
1 #
$a
分析預測及優化.
250
$a
第1版.
260
#
$a
北京市 :
$c
2012.
$b
清華大學出版社,
300
$a
[5], 108面 :
$b
圖, 表 ;
$c
23公分.
500
$a
簡體字版.
504
$a
參考書目 : 面[100]-108.
650
# 7
$a
電子電路.
$2
lcstt
$3
847457
700
1 #
$a
韓銀和.
$3
847505
筆 0 讀者評論
全部
圖書館4F 書庫
館藏
1 筆 • 頁數 1 •
1
條碼號
典藏地名稱
館藏流通類別
資料類型
索書號
使用類型
借閱狀態
預約狀態
備註欄
附件
C237909
圖書館4F 書庫
一般圖書(BOOK)
一般圖書
448.62 4248 101
一般使用(Normal)
在架
0
預約
1 筆 • 頁數 1 •
1
評論
新增評論
分享你的心得
Export
取書館別
處理中
...
變更密碼[密碼必須為2種組合(英文和數字)及長度為10碼以上]
登入