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65nm窄寬度MOSFETs於升溫下之通道熱載子可靠度探討 = = ...

蔡國裕

65nm窄寬度MOSFETs於升溫下之通道熱載子可靠度探討 = = Channel-Hot-Carrier Effect on 65 nm Wide/Narrow Width MOSFETs with Temperature Variations /

Record Type:	Language materials, printed : Monograph/item
Title/Author:	65nm窄寬度MOSFETs於升溫下之通道熱載子可靠度探討 = / 蔡國裕撰.
Reminder of title:	Channel-Hot-Carrier Effect on 65 nm Wide/Narrow Width MOSFETs with Temperature Variations /
remainder title:	Channel-Hot-Carrier Effect on 65 nm Wide/Narrow Width MOSFETs with Temperature Variations
Author:	蔡國裕
Published:	雲林縣 : 國立虎尾科技大學 , : 民101[2012],
Description:	64面 : 圖 ; : 30公分;
Notes:	指導教授：謝振楡
Subject:	Degradation -
Online resource:	http://cetd.lib.nfu.edu.tw/etdservice/view_metadata?etdun=U0028-0608201215364300

65nm窄寬度MOSFETs於升溫下之通道熱載子可靠度探討 = = Channel-Hot-Carrier Effect on 65 nm Wide/Narrow Width MOSFETs with Temperature Variations /
蔡國裕

65nm窄寬度MOSFETs於升溫下之通道熱載子可靠度探討 = Channel-Hot-Carrier Effect on 65 nm Wide/Narrow Width MOSFETs with Temperature Variations / Channel-Hot-Carrier Effect on 65 nm Wide/Narrow Width MOSFETs with Temperature Variations蔡國裕撰. - 初版 - 雲林縣 : 國立虎尾科技大學 , 民101[2012] - 64面 : 圖 ; 30公分

指導教授：謝振楡

含參考書目Subjects--Topical Terms:

922755
Degradation

65nm窄寬度MOSFETs於升溫下之通道熱載子可靠度探討 = = Channel-Hot-Carrier Effect on 65 nm Wide/Narrow Width MOSFETs with Temperature Variations /
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500 $a 碩士論文--國立虎尾科技大學光電與材料科技研究所
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