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公差配合與技術測量
紀錄類型:
書目-語言資料,印刷品 : Monograph/item
正題名/作者:
公差配合與技術測量/ 張皓陽主編.
其他作者:
張皓陽
出版者:
北京市 :人民郵電出版社, : 2012.,
面頁冊數:
線上資源(311面)
附註:
Title from title screen.
標題:
計測工學 -
電子資源:
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ISBN:
9787115271129
公差配合與技術測量
公差配合與技術測量
[電子資源] /張皓陽主編. - 北京市 :人民郵電出版社,2012. - 線上資源(311面)
Title from title screen.
本書共11章，內容包括：緒論、尺寸公差與配合、技術測量基礎、形位公差及其測量、表明粗糙度與測量、典型零件的公差與檢測、尺寸鏈、基本測量的實際操作等。
Text (Electronic book)
Electronic reproduction.
Beijing :
ApabiDlib,
2004.
System requirements: Apabi Reader.
Mode of access: World Wide Web.
ISBN: 9787115271129Subjects--Topical Terms:
830145
計測工學
公差配合與技術測量
LDR
:01108nam a2200253Mi 4500
001
817239
003
ChTaNC
005
20150814104600.0
006
m d
007
cr cn mmmanabp
008
150907s2012 cc g 000 0 chi d
020
$a
9787115271129
035
$a
fcu00005240
040
$a
CYT
$b
chi
$c
CYT
$d
CYT
066
$c
$1
084
$a
440.121
$2
ncsclt
245
0 0
$a
公差配合與技術測量
$h
[電子資源] /
$c
張皓陽主編.
260
$a
北京市 :
$b
人民郵電出版社,
$c
2012.
300
$a
線上資源(311面)
500
$a
Title from title screen.
504
$a
本書共11章，內容包括：緒論、尺寸公差與配合、技術測量基礎、形位公差及其測量、表明粗糙度與測量、典型零件的公差與檢測、尺寸鏈、基本測量的實際操作等。
516
$a
Text (Electronic book)
533
$a
Electronic reproduction.
$b
Beijing :
$c
ApabiDlib,
$d
2004.
$n
System requirements: Apabi Reader.
$n
Available via World Wide Web.
538
$a
Mode of access: World Wide Web.
650
7
$a
計測工學
$2
lcstt
$3
830145
700
1
$a
張皓陽
$3
1036845
856
4 0
$u
http://www.apabi.com/cec/pub.mvc?pid=book.detail&metaid=m.20121101-ZDLW-889-1098&cult=TW
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