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Systematische Beurteilung technische...
~
Lange, Günter.
Systematische Beurteilung technischer Schadensfälle DUP_1
紀錄類型:
書目-語言資料,印刷品 : Monograph/item
正題名/作者:
Systematische Beurteilung technischer Schadensfälle DUP_1/ herausgegeben von Günter Lange und Michael Pohl.
其他作者:
Pohl, Michael.
出版者:
Weinheim, Germany :Wiley-VCH, : 2014.,
面頁冊數:
1 online resource (xvi, 548 p.) :ill. :
標題:
Semiconductors - Failures. -
電子資源:
http://onlinelibrary.wiley.com/book/10.1002/9783527683161
ISBN:
9783527683222 (electronic bk.)
Systematische Beurteilung technischer Schadensfälle DUP_1
Systematische Beurteilung technischer Schadensfälle DUP_1
[electronic resource] /herausgegeben von Günter Lange und Michael Pohl. - Sechste Auflage. - Weinheim, Germany :Wiley-VCH,2014. - 1 online resource (xvi, 548 p.) :ill.
Includes bibliographical references and index.
ISBN: 9783527683222 (electronic bk.)Subjects--Topical Terms:
670934
Semiconductors
--Failures.
LC Class. No.: TK7871.852 / .S97 2014eb
Dewey Class. No.: 621.38152
Systematische Beurteilung technischer Schadensfälle DUP_1
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Description based on online resource; title from PDF title page (Wiley, viewed June 2, 2014)
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