語系:
繁體中文
English
說明(常見問題)
登入
回首頁
切換:
標籤
|
MARC模式
|
ISBD
發明專利實體審查基準 = = Guidelines for substantive examination of invention patent /
紀錄類型:
書目-語言資料,印刷品 : Monograph/item
正題名/作者:
發明專利實體審查基準 =/ 張仁平編著.
其他題名:
Guidelines for substantive examination of invention patent /
其他題名:
Guidelines for substantive examination of invention patent
作者:
張仁平.
出版者:
臺北市 :經濟部智慧局, : 2015.02印刷.,
面頁冊數:
[11], 377面 :圖 ; : 21公分.;
附註:
2015.02二刷.
標題:
發明. -
ISBN:
9789860404630 (平裝) :
發明專利實體審查基準 = = Guidelines for substantive examination of invention patent /
張仁平.
發明專利實體審查基準 =
Guidelines for substantive examination of invention patent /Guidelines for substantive examination of invention patent張仁平編著. - 初版. - 臺北市 :經濟部智慧局,2015.02印刷. - [11], 377面 :圖 ;21公分. - 智慧財產培訓學院教材 ;8. - 智慧財產培訓學院教材 ;23..
2015.02二刷.
ISBN: 9789860404630 (平裝) :NT400Subjects--Topical Terms:
847577
發明.
發明專利實體審查基準 = = Guidelines for substantive examination of invention patent /
LDR
:00673cam a2200181 i 450
001
846383
008
160929s2015 ch a e f000 0 chi d
017
$2
rocgpt
$a
1010300213
020
$a
9789860404630 (平裝) :
$c
NT400
040
$a
三民
$b
chi
$b
三民
$d
NFU
$e
CCR
041
0
$a
chi
084
$a
440.61
$b
1121 104
$2
ncsclt
100
1
$a
張仁平.
$3
848591
245
1 0
$a
發明專利實體審查基準 =
$b
Guidelines for substantive examination of invention patent /
$c
張仁平編著.
246
3 1
$a
Guidelines for substantive examination of invention patent
250
$a
初版.
260
$a
臺北市 :
$b
經濟部智慧局,
$c
2015.02印刷.
300
$a
[11], 377面 :
$b
圖 ;
$c
21公分.
490
1
$a
智慧財產培訓學院教材 ;
$v
8
500
$a
2015.02二刷.
650
7
$a
發明.
$2
lcstt
$3
847577
650
7
$2
lcstt
$a
專利法規.
$3
834094
830
0
$a
智慧財產培訓學院教材 ;
$v
23.
$3
913280
筆 0 讀者評論
全部
圖書館4F 書庫
館藏
2 筆 • 頁數 1 •
1
條碼號
典藏地名稱
館藏流通類別
資料類型
索書號
使用類型
借閱狀態
預約狀態
備註欄
附件
C265751
圖書館4F 書庫
一般圖書(BOOK)
一般圖書
440.61 1121 104
一般使用(Normal)
在架
0
預約
C265752
圖書館4F 書庫
一般圖書(BOOK)
一般圖書
440.61 1121 104 c.2
一般使用(Normal)
在架
0
預約
2 筆 • 頁數 1 •
1
評論
新增評論
分享你的心得
Export
取書館別
處理中
...
變更密碼[密碼必須為2種組合(英文和數字)及長度為10碼以上]
登入