應用失效模式與效應分析於改善委外廠商IC封裝製程之品質 = = The ...
吳家典

 

  • 應用失效模式與效應分析於改善委外廠商IC封裝製程之品質 = = The Application of FMEA to Improve IC Packaging Quality of the Outsourcing Manufacturer /
  • 紀錄類型: 書目-語言資料,印刷品 : Monograph/item
    正題名/作者: 應用失效模式與效應分析於改善委外廠商IC封裝製程之品質 =/ 吳家典.
    其他題名: The Application of FMEA to Improve IC Packaging Quality of the Outsourcing Manufacturer /
    其他題名: The Application of FMEA to Improve IC Packaging Quality of the Outsourcing Manufacturer.
    作者: 吳家典
    出版者: 雲林縣 :國立虎尾科技大學 , : 民112.07.,
    面頁冊數: [6], 44面 :圖, 表 ; : 30公分.;
    附註: 指導教授: 黃信豪.
    標題: IC packaging. -
    電子資源: 電子資源
館藏
  • 1 筆 • 頁數 1 •
 
T012732 圖書館B1F 博碩士論文專區 不流通(NON_CIR) 碩士論文(TM) TM 008.169M 2635 112 一般使用(Normal) 在架 0
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