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Beam effects, surface topography, an...
~
Czanderna, Alvin Warren (1930)
Beam effects, surface topography, and depth profiling in surface analysis
紀錄類型:
書目-語言資料,印刷品 : 單行本
其他作者:
CzandernaAlvin Warren, 1930
其他作者:
MadeyTheodore E,
其他作者:
PowellC. J,
出版地:
New York
出版者:
Plenum Press;
出版年:
c1998
面頁冊數:
xix, 430 pill : 24 cm;
集叢名:
Methods of surface characerization
標題:
Surfaces (Technology) - Analysis -
標題:
Materials - Effect of radiation on -
ISBN:
0306458969
Beam effects, surface topography, and depth profiling in surface analysis
Beam effects, surface topography, and depth profiling in surface analysis
/ edited by Alvin W. Czanderna, Theodore E. Madey and Cedric J. Powell - New York : Plenum Press, c1998. - xix, 430 p ; ill ; 24 cm. - (Methods of surface characerization ; v. 5).
Includes bibliographical references and index.
ISBN 0306458969
Surfaces (Technology)Materials -- Analysis -- Effect of radiation on
Czanderna, Alvin Warren
Beam effects, surface topography, and depth profiling in surface analysis
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國立虎尾科技大學圖書館圖書館
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20020626
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圖書館3F 書庫
館藏
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E022644
圖書館3F 書庫
一般圖書(BOOK)
一般圖書
620.44 B366 1998
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