語系:
繁體中文
English
說明(常見問題)
登入
回首頁
切換:
標籤
|
MARC模式
|
ISBD
具HfLaTiON電荷捕捉層之前瞻金氧半結構非揮發性記憶體元件特性研究 ...
~
Che-Jui Hsu
具HfLaTiON電荷捕捉層之前瞻金氧半結構非揮發性記憶體元件特性研究 = Memory Characteristics of Advanced Metal-Oxide-Semiconductor Structured Nonvolatile Memory with HfLaTiON as Charge Trapping Layer
紀錄類型:
書目-語言資料,印刷品 : 單行本
並列題名:
Memory Characteristics of Advanced Metal-Oxide-Semiconductor Structured Nonvolatile Memory with HfLaTiON as Charge Trapping Layer
作者:
許哲睿,
其他作者:
鄭錦隆,
其他作者:
鄭錦聰,
出版地:
雲林縣
出版者:
國立虎尾科技大學;
出版年:
民99[2010]
版本:
初版
面頁冊數:
86面圖 : 30公分;
標題:
氮氧化鉿鑭
標題:
氮氧化鉿鑭鈦
標題:
濺鍍機
標題:
電荷補捉層
標題:
非揮發性記憶體元件
標題:
高介電係數材料
標題:
Charge Trapping Layer
標題:
HfLaOxNy
標題:
HfLaTiON
標題:
High-k Dielectrics
標題:
Nonvolatile Memory Devices
標題:
Sputter
電子資源:
http://cetd.lib.nfu.edu.tw/etdservice/view_metadata?etdun=U0028-0806201016502700
具HfLaTiON電荷捕捉層之前瞻金氧半結構非揮發性記憶體元件特性研究 = Memory Characteristics of Advanced Metal-Oxide-Semiconductor Structured Nonvolatile Memory with HfLaTiON as Charge Trapping Layer
許, 哲睿
具HfLaTiON電荷捕捉層之前瞻金氧半結構非揮發性記憶體元件特性研究
= Memory Characteristics of Advanced Metal-Oxide-Semiconductor Structured Nonvolatile Memory with HfLaTiON as Charge Trapping Layer / 許哲睿撰 - 初版. - 雲林縣 : 國立虎尾科技大學, 民99[2010]. - 86面 ; 圖 ; 30公分.
含參考書目.
氮氧化鉿鑭氮氧化鉿鑭鈦濺鍍機電荷補捉層非揮發性記憶體元件高介電係數材料Charge Trapping LayerHfLaOxNyHfLaTiONHigh-k DielectricsNonvolatile Memory DevicesSputter
鄭, 錦隆
具HfLaTiON電荷捕捉層之前瞻金氧半結構非揮發性記憶體元件特性研究 = Memory Characteristics of Advanced Metal-Oxide-Semiconductor Structured Nonvolatile Memory with HfLaTiON as Charge Trapping Layer
LDR
:01470nam0 2200361 450
001
649412
010
0
$b
平裝
100
$a
20100611y2010 y0chiy50 e
101
0
$a
chi
$d
chi
$d
eng
102
$a
tw
200
1
$a
具HfLaTiON電荷捕捉層之前瞻金氧半結構非揮發性記憶體元件特性研究
$d
Memory Characteristics of Advanced Metal-Oxide-Semiconductor Structured Nonvolatile Memory with HfLaTiON as Charge Trapping Layer
$f
許哲睿撰
205
$a
初版
210
$a
雲林縣
$d
民99[2010]
$c
國立虎尾科技大學
215
0
$a
86面
$c
圖
$d
30公分
314
$a
指導教授 : 鄭錦隆、鄭錦聰
320
$a
含參考書目
328
$a
碩士論文--國立虎尾科技大學機械與機電工程研究所
510
1
$a
Memory Characteristics of Advanced Metal-Oxide-Semiconductor Structured Nonvolatile Memory with HfLaTiON as Charge Trapping Layer
610
0
$a
氮氧化鉿鑭
610
0
$a
氮氧化鉿鑭鈦
610
0
$a
濺鍍機
610
0
$a
電荷補捉層
610
0
$a
非揮發性記憶體元件
610
0
$a
高介電係數材料
610
1
$a
Charge Trapping Layer
610
1
$a
HfLaOxNy
610
1
$a
HfLaTiON
610
1
$a
High-k Dielectrics
610
1
$a
Nonvolatile Memory Devices
610
1
$a
Sputter
681
$a
008.154M
$b
0852
700
1
$a
許
$b
哲睿
$3
719280
702
1
$a
鄭
$b
錦隆
$3
485022
702
1
$a
鄭
$b
錦聰
$3
397516
770
1
$a
Che-Jui Hsu
$3
718648
772
0
$a
Chin-Lung Cheng
$3
541150
772
0
$a
Jin-Tsong Jeng
$3
722052
801
0
$a
tw
$b
國立虎尾科技大學圖書館
$c
20100914
801
1
$a
tw
$b
國立虎尾科技大學圖書館
$c
20101015
856
4
$u
http://cetd.lib.nfu.edu.tw/etdservice/view_metadata?etdun=U0028-0806201016502700
筆 0 讀者評論
全部
圖書館B1F 博碩士論文專區
圖書館B1F 可外借論文區
館藏
2 筆 • 頁數 1 •
1
條碼號
典藏地名稱
館藏流通類別
資料類型
索書號
使用類型
借閱狀態
預約狀態
備註欄
附件
T001820
圖書館B1F 博碩士論文專區
不流通(NON_CIR)
碩士論文(TM)
TM 008.154M 0852 99
一般使用(Normal)
在架
0
T001821
圖書館B1F 可外借論文區
不流通(NON_CIR)
一般圖書
008.154M 0852 99
一般使用(Normal)
在架
0
2 筆 • 頁數 1 •
1
多媒體
評論
新增評論
分享你的心得
Export
取書館別
處理中
...
變更密碼[密碼必須為2種組合(英文和數字)及長度為10碼以上]
登入