具HfLaTiON電荷捕捉層之前瞻金氧半結構非揮發性記憶體元件特性研究 ...
Che-Jui Hsu

 

  • 具HfLaTiON電荷捕捉層之前瞻金氧半結構非揮發性記憶體元件特性研究 = Memory Characteristics of Advanced Metal-Oxide-Semiconductor Structured Nonvolatile Memory with HfLaTiON as Charge Trapping Layer
  • 紀錄類型: 書目-語言資料,印刷品 : 單行本
    並列題名: Memory Characteristics of Advanced Metal-Oxide-Semiconductor Structured Nonvolatile Memory with HfLaTiON as Charge Trapping Layer
    作者: 許哲睿,
    其他作者: 鄭錦隆,
    其他作者: 鄭錦聰,
    出版地: 雲林縣
    出版者: 國立虎尾科技大學;
    出版年: 民99[2010]
    版本: 初版
    面頁冊數: 86面圖 : 30公分;
    標題: 氮氧化鉿鑭
    標題: 氮氧化鉿鑭鈦
    標題: 濺鍍機
    標題: 電荷補捉層
    標題: 非揮發性記憶體元件
    標題: 高介電係數材料
    標題: Charge Trapping Layer
    標題: HfLaOxNy
    標題: HfLaTiON
    標題: High-k Dielectrics
    標題: Nonvolatile Memory Devices
    標題: Sputter
    電子資源: http://cetd.lib.nfu.edu.tw/etdservice/view_metadata?etdun=U0028-0806201016502700
館藏
  • 2 筆 • 頁數 1 •
 
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