雙層超薄Ru/Ta-Si-C擴散阻障層與銅連導線製程特性探討 = Pro...
Jau-Shiung Fang

 

  • 雙層超薄Ru/Ta-Si-C擴散阻障層與銅連導線製程特性探討 = Properties of Ultrathin Ru/TaSiC Bi-Layer Diffusion Barrier for Cu Interconnects
  • Record Type: Language materials, printed : monographic
    Paralel Title: Properties of Ultrathin Ru/TaSiC Bi-Layer Diffusion Barrier for Cu Interconnects
    Author: 黃孟碩,
    Secondary Intellectual Responsibility: 方昭訓,
    Place of Publication: 雲林縣
    Published: 國立虎尾科技大學;
    Year of Publication: 民100[2011]
    Edition: 初版
    Description: 118面圖 : 30公分;
    Subject: 銅晶種層
    Subject: 電鍍銅
    Subject: 擴散阻障層
    Subject: 熱穩定性
    Subject: Cu seed layer
    Subject: Cu electroplating
    Subject: diffusion barrier
    Subject: thermal stability
    Online resource: http://cetd.lib.nfu.edu.tw/etdservice/view_metadata?etdun=U0028-2207201111151600
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T002976 圖書館B1F 博碩士論文專區 不流通(NON_CIR) 碩士論文(TM) TM 008.152M 4411 100 一般使用(Normal) On shelf 0
T002977 圖書館B1F 可外借論文區 不流通(NON_CIR) 一般圖書 008.152M 4411 100 一般使用(Normal) On shelf 0
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