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Atom probe microscopy /
~
Gault, Baptiste.
Atom probe microscopy /
紀錄類型:
書目-語言資料,印刷品 : Monograph/item
正題名/作者:
Atom probe microscopy // Baptiste Gault ... [et al.].
其他作者:
Gault, Baptiste.
出版者:
New York :Springer, : c2012.,
面頁冊數:
xxiii, 396 p. :ill. (some col.) ; : 24 cm.;
標題:
Atomic force microscopy. -
ISBN:
9781461434351 (Cloth) :
Atom probe microscopy /
Atom probe microscopy /
Baptiste Gault ... [et al.]. - New York :Springer,c2012. - xxiii, 396 p. :ill. (some col.) ;24 cm. - Springer series in materials science ;160.. - Springer series in materials science ;106..
Includes bibliographical references and index.
ISBN: 9781461434351 (Cloth) :NT5195
LCCN: 2012936826Subjects--Topical Terms:
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Atomic force microscopy.
LC Class. No.: QH212.A78 / A85 2012
Dewey Class. No.: 502.8/2
Atom probe microscopy /
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圖書館3F 書庫
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一般圖書(BOOK)
一般圖書
502.82 A881 2012
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